专业科技
BeCe™ - 公司通过独特编织技术所生产的的BeCe™ Contact Buttons,一种高性能电接触器,其所具备的超薄性、高宽带, 高频率和低电感特性使其成为数字和模拟芯片高速测试的最佳选择。
这种探针在测试过程中,可以完美的实现Micro-Wipe动作,通过完整的穿透氧化层且提供无损伤接触来达到完美的实验目的。
随着发展,公司新一代产品也将问世,新产品更加出色的性能已完全达到晶元测试的要求。
专利列表
- US 7,040,902
- US 7,029,288
- US10,985,488B1
- CN211406442U
- CN1 0046 8869C
- CN113207217A, Patent Pending